離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ) , 經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試(1 ～1000 小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生( ION MIGRATION ) , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)。( ION MIGRATION TESTING )
在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。
通過最大3000 V的直流偏置，為TDDB器件提供了高電壓、高電壓的離子遷移，并對(duì)器件進(jìn)行了絕緣。高壓電路板，高空隙件。
另外，HVUα系列還可以測(cè)試兩個(gè)機(jī)架和電池之間的太陽(yáng)系統(tǒng)漏電，HVUα系列可在每個(gè)通道上設(shè)置電壓50-3000V。
檢測(cè)絕緣退化征
納米鈉的TANS高性能檢測(cè)電路可實(shí)現(xiàn)瞬時(shí)電流的運(yùn)動(dòng)和局部放電。
★在所有信道中都能檢測(cè)到絕緣性退化，如局部放電或瞬間短路，這是無法進(jìn)行數(shù)據(jù)采集的。
★它能夠在早期階段預(yù)測(cè)最終結(jié)果，并有可能提出下一步該做什么。
★可以通過顯示電阻圖和局部放電來找出瞬時(shí)絕緣降解和下降電阻的相關(guān)性。
精確輸入偏差
HVUα系列提供在每條通道上設(shè)置不同的輸入偏置，通過反饋輸入每個(gè)通道的偏置，HvUa系列可以在任何時(shí)候輸入正確的設(shè)定偏差。
用簡(jiǎn)化的測(cè)試儀，當(dāng)絕緣電阻運(yùn)動(dòng)時(shí)，實(shí)際的輸入偏置會(huì)發(fā)生變化，通過設(shè)定偏差和實(shí)際偏差的差異造成錯(cuò)誤的評(píng)估。
高可靠性不使用機(jī)械繼電器
HVUα系列沒有機(jī)械式繼電器，這就是為什么它是故障的最主要原因。不穩(wěn)定。HvUo系列在每個(gè)通道上都有電力和測(cè)量電路。
低噪聲測(cè)量有源保護(hù)電纜
使用主動(dòng)保護(hù)電纜，防止外界噪音。這是先進(jìn)的測(cè)量小電流(高電阻)比典型的屏蔽電纜。
此外，為了減輕高頻信號(hào)的衰減，將改善局部放電的檢測(cè)性能。
檢測(cè)每個(gè)通道上的快速檢測(cè)功能
HVUα系列在每條通道上都有短路的檢測(cè)電路，并在毫秒甚至3000伏的電壓下切斷偏置。HVUα?系列將不會(huì)輸入功率超過必要的NG樣品，并削減輸入偏置一旦輸入偏置電纜觸摸在沒有意圖的案件室。這是為了安全。
